重复雪崩的ASFET
用于重复雪崩的ASFET专为满足一系列汽车和感性负载的需求而设计:
- 符合AEC-Q101标准
- 有保证的重复雪崩性能,经过高达10亿个周期的测试
- 稳健的硅技术与LFPAK的热性能相结合,确保芯片温度保持在175 ℃以下
- 使用单个MOSFET非常简便,减少了BOM和电路复杂性,实现了系统成本和空间节约
- 用现代沟槽替代旧式平面技术
- 与续流二极管方案相比,提供了更高的效率和更快的开关
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产品
型号 | 描述 | 状态 | 快速访问 |
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BUK9K13-60RA | Dual N-channel 60 V, 12.5 mOhm logic level MOSFET in LFPAK56D using Repetitive Avalanche technology | Production | |
BUK9K25-40RA | Dual N-channel 40 V, 29 mOhm logic level MOSFET in LFPAK56D using Repetitive Avalanche technology | Production | |
BUK9K35-60RA | Dual N-channel 60 V, 35 mOhm logic level MOSFET in LFPAK56D using Repetitive Avalanche technology | Production | |
BUK9K52-60RA | Dual N-channel 60 V, 55 mOhm logic level MOSFET in LFPAK56D using Repetitive Avalanche technology | Production |
Application note (2) |
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文件名称 | 标题 | 类型 | 日期 |
AN50003.pdf | Driving solenoids in automotive applications | Application note | 2023-11-03 |
AN10273.pdf | Power MOSFET single-shot and repetitive avalanche ruggedness rating | Application note | 2022-06-20 |
Design support (1) |
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文件名称 | 标题 | 类型 | 日期 |
SOT1205.step | 3D model for products with SOT1205 package | Design support | 2017-06-30 |
Selection guide (1) |
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文件名称 | 标题 | 类型 | 日期 |
Nexperia_Selection_guide_2023.pdf | Nexperia Selection Guide 2023 | Selection guide | 2023-05-10 |
SPICE model (4) |
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文件名称 | 标题 | 类型 | 日期 |
BUK9K52-60RA.lib | BUK9K52-60RA SPICE model | SPICE model | 2020-12-04 |
BUK9K35-60RA.lib | BUK9K35-60RA SPICE model | SPICE model | 2020-12-04 |
BUK9K25-40RA.lib | BUK9K25-40RA SPICE model | SPICE model | 2020-12-04 |
BUK9K13-60RA.lib | BUK9K13-60RA SPICE model | SPICE model | 2020-12-04 |
Thermal model (4) |
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文件名称 | 标题 | 类型 | 日期 |
BUK9K52-60RA_Zth.lib | BUK9K52-60RA thermal model | Thermal model | 2020-12-04 |
BUK9K35-60RA_Zth.lib | BUK9K35-60RA thermal model | Thermal model | 2020-12-04 |
BUK9K25-40RA_Zth.lib | BUK9K25-40RA thermal model | Thermal model | 2020-12-04 |
BUK9K13-60RA_Zth.lib | BUK9K13-60RA thermal model | Thermal model | 2020-12-04 |